网站地图

MEMS微机电系统工艺

玻璃通孔,键合,空腔,金属互连等工艺能力,可帮助实现很多MEMS器件的开发和制造。森丸电子MEMS微机电系统工艺平台,拥有这些全流程能力,并且可以快速响应和灵活迭代,帮助客户快速开发和生产新产品。


压电器件中广泛应用各种工艺技术实现空腔,玻璃基底由于其优良的电学性能,及TGV通孔的能力,正逐渐成为这类空腔应用的最佳解决方案。





森丸电子拥有深槽刻蚀,晶圆键合,各种厚薄膜及深孔金属化的能力。在这些专业能力基础上的灵活应用,可为客户提供有针对性的新产品开发和生产流程方案。

深槽刻蚀

晶圆键合

金属化

MEMS工艺能力

光刻工艺

接近式光刻:支持4/6/8寸,CD≥2um,套刻精度0.5um

步进式光刻:曝光尺寸 4/6/8寸,CD≥0.5um,曝光精度150nm

自动匀胶显影:4/6/8寸兼容,配备多路匀胶及显影管路,匀胶膜厚均匀性≤3%

镀膜工艺

PVD 磁控溅射:8寸及以下兼容,可沉积 Ti、Cu、Au、Al、TaN等金属薄膜

PECVD 增强化学气相沉积:8寸及以下兼容,可沉积 SiO2,SiNx等

ALD 原子层沉积:8寸及以下兼容,可沉积氧化物、氮化物、High-K 材料等

电镀工艺

平面电镀:Cu/Ni/Au电镀

填孔电镀:TGV通孔填充电镀

盲孔电镀:BGV/TSV盲孔填充电镀

具备高精度半导体垂直挂镀,水平杯镀工艺能力

刻蚀工艺

RIE 刻蚀:6/8寸兼容,用于介质层刻蚀.如 SIO.SIN等

DRIE深硅刻蚀:6/8寸兼容,用于 Si高宽深比的体加工刻蚀

ICP 刻蚀:6/8寸兼容,用于金属、氧化物等刻蚀,如AI,TaN、SiO2、SiNx等材料刻蚀

射频/微波干法去胶机:Plasma,Asher等

湿法工艺

金属湿法刻蚀:支持4/6/8寸晶圆,Ti/Cu/Ni/Au/Cr等多种金属湿法刻蚀

体硅湿法刻蚀:硅片湿法晶相刻蚀

玻璃湿法刻蚀:支持酸/碱刻蚀工艺,玻璃微流道/激光诱导等刻蚀

清洗工艺:RCA 清洗、SPM清洗、有机/无机清洗、光刻胶去胶等

后道及测试工艺

晶圆键合:4/6/8寸晶圆级键合,支持阳极键合,热压键合,临时键合等

减薄抛光:支持6/8寸晶圆玻璃/硅/金属等多种材料的减薄及CMP 抛光

切割划片:Disco 划片、激光隐切,支持高质量玻璃划/切工艺

探针台测试系统:支持电性能 CP 测试、RF 射频性能

顶部